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芯片是電路的基本組成部分,有著廣泛的應(yīng)用。傳統(tǒng)的人工檢測(cè)存在很多不足,視覺檢測(cè)尺寸測(cè) 量技術(shù)由此應(yīng)運(yùn)而生,視覺檢測(cè)由于自身具備高靈敏度、高精度及高耐用性的特性,對(duì)于提高工業(yè)自動(dòng) 化水平和工業(yè)生產(chǎn)效率有極大助力。根據(jù)課題要求,以單片機(jī)芯片為研究對(duì)象,以檢測(cè)單片機(jī)芯片二維 平面上的尺寸,外觀,缺陷,質(zhì)量,長(zhǎng)寬,直徑,高度,精度,缺料,字符,劃傷,針腳,真圓度,毛刺為研究目標(biāo),設(shè)計(jì)了基于視覺檢測(cè)的單片機(jī)芯片檢測(cè)系統(tǒng)的硬件方案,硬件組成包 括光源與照明方式的選擇,以及相機(jī)與鏡頭的選擇。完成硬件平臺(tái)搭建后,同時(shí)制作了應(yīng)用于相機(jī)標(biāo)定 的標(biāo)定板并在調(diào)試完成的硬件平臺(tái)上拍攝了三十張左右的標(biāo)定圖片。
利用MATLABR2016A作為系統(tǒng)的 軟件處理平臺(tái),一方面應(yīng)用MATLAB標(biāo)定箱對(duì)標(biāo)定圖做相機(jī)標(biāo)定,另一方面編寫用于單片機(jī)芯片尺寸測(cè) 量的圖像處理代碼及測(cè)量代碼。其中,在圖像處理環(huán)節(jié)主要包括圖像濾波、二值化處理和邊緣提取等步 驟。單片機(jī)芯片的尺寸測(cè)量實(shí)驗(yàn)完成后將實(shí)驗(yàn)結(jié)果與真實(shí)尺寸的對(duì)比,可以看出構(gòu)建的基于視覺檢測(cè)的 電子元器件外形尺寸測(cè)量系統(tǒng)滿足了課題設(shè)定目標(biāo)。
關(guān)鍵詞
芯片尺寸,外觀,缺陷,質(zhì)量,長(zhǎng)寬,直徑,高度,精度,缺料,字符,劃傷,針腳,真圓度,毛刺檢測(cè)
1. 系統(tǒng)總體設(shè)計(jì) 本系統(tǒng)中的硬件設(shè)計(jì)所需要的設(shè)備有光源、相機(jī)、鏡頭和計(jì)算機(jī),軟件設(shè)計(jì)所需要的平臺(tái)是 MATLAB R2016A,電子元件選用的是單片機(jī)芯片。 系統(tǒng)總體方案的實(shí)施步驟是:首先選取適合電子元件尺寸測(cè)量的光源類型以及其對(duì)應(yīng)的光照方式, 在完成照明方案設(shè)計(jì)后選擇合適的工業(yè)相機(jī)和鏡頭,將照明光源和相機(jī)、鏡頭固定在支架后,通過調(diào)節(jié) 相機(jī)與被測(cè)物體的距離、相機(jī)鏡頭的放大倍數(shù)和光圈大小,確保待測(cè)單片機(jī)芯片可以完整清晰地呈現(xiàn)在 計(jì)算機(jī)成像畫面中,至此系統(tǒng)硬件平臺(tái)的搭建工作完成。隨后在成像畫面中獲取對(duì)比度高的單片機(jī)芯片 灰度圖作為尺寸測(cè)量系統(tǒng)軟件部分的待處理圖片[5]。待處理的單片機(jī)芯片灰度圖在 MATLAB 軟件平臺(tái) 上經(jīng)過圖像增強(qiáng)、圖像濾波、二值化、邊緣檢測(cè)等一系列圖像處理方法后通過像素點(diǎn)計(jì)算獲取芯片長(zhǎng)寬 尺寸。
2. 硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì) 照明方案設(shè)計(jì)對(duì)于視覺系統(tǒng)尤其重要,一方面可以提高采集到的圖像的清晰度,另一方面減少環(huán)境 光對(duì)測(cè)量系統(tǒng)的干擾。通過查閱資料和對(duì)比本課題實(shí)際測(cè)量的元器件尺寸,LED 燈的綜合性能最為優(yōu)越; 同時(shí),經(jīng)過在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下對(duì)各種光照方式實(shí)際對(duì)比,綜合考慮到照明效果與可操作性,本文最終在前 向照明、背向照明和環(huán)形照明這種光照方式;與 CMOS 相機(jī)相比,CCD 相機(jī)有著更高的分辨率和靈敏度, 本系統(tǒng)最終采用大恒圖像 MER-132-30GM 面陣 CCD 相機(jī),它支持水平鏡像和垂直鏡像,可直接連接 HALCON、MERLIC、LabVIEW 等第三方軟件;鏡頭采用 COMPUTAR 公司生產(chǎn)的 M0824-MPW2 型號(hào) 鏡頭[6]。現(xiàn)在主流的視覺處理軟件有:OpenCV、LabVIEW、HALCON、eVision、HexSight、RVB 以及 MATLAB。本課題選擇了 MATLAB 的 R2016a 版本作為系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)平臺(tái),MATLAB 相比于其他圖像 處理軟件學(xué)習(xí)成本低同時(shí)集成了許多圖像處理函數(shù),適合本科生選用作為畢業(yè)設(shè)計(jì)課題的開發(fā)軟件。選 擇好硬件后,將硬件湊齊簡(jiǎn)單搭建平臺(tái)即可開始軟硬件調(diào)試以及后續(xù)工作。
3. 圖像處理總體方案 本章將重點(diǎn)介紹圖像預(yù)處理和邊緣提取的流程,包括圖像濾波、圖像二值化和 邊緣檢測(cè)以及邊緣檢測(cè)的替代處理方法,同時(shí)在這幾道流程中對(duì)比不同的算法帶來的效果差別,并挑選 出最適合單片機(jī)芯片尺寸測(cè)量的方法。 對(duì)比中值濾波、均值濾波和高斯濾波可以比較得出,高斯濾波的對(duì)于鄰域內(nèi)各點(diǎn)的權(quán)重分配類似于 正態(tài)分布,所以高斯濾波對(duì)于服從正態(tài)分布的噪聲的抑制效果非常好。由于采集的單片機(jī)芯片圖像質(zhì)量 較好,故三種濾波效果均非太明顯,最終采用高斯濾波。濾波效果如圖 3 所示,
并將其灰度反轉(zhuǎn)為圖像 二值化作準(zhǔn)備。本課題對(duì)于單片機(jī)芯片的二值化處理,在使用最大類間方差 法、平均值法和直方圖閾值法后均未得出較理想的二值圖像結(jié)果,由于待測(cè)圖像樣本量比較少,根據(jù)人 工經(jīng)驗(yàn)選擇法的準(zhǔn)則最終確定了閾值[7] [8]。確定閾值為 200。
在完成了上述一系列連通域處理步驟后,可以運(yùn)用 MATLAB 軟件中最小外接矩形函數(shù)計(jì)算待測(cè)單 片機(jī)芯片的外接矩形,獲取單片機(jī)四個(gè)角點(diǎn)坐標(biāo)為最終尺寸測(cè)量作鋪墊。
4. 電子元件尺寸測(cè)量實(shí)驗(yàn)及分析 用棋盤格標(biāo)定法將單片機(jī)芯片圖像中的尺寸轉(zhuǎn)變?yōu)楝F(xiàn)實(shí)的尺寸。棋盤格標(biāo)定法的操作介于相機(jī)自標(biāo) 定法和傳統(tǒng)相機(jī)標(biāo)定法之間,沒有傳統(tǒng)相機(jī)標(biāo)定繁瑣的步驟。 本系統(tǒng)采用 MATLAB 標(biāo)定工具箱對(duì)相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定。利用相機(jī)內(nèi)外參數(shù)將像素坐標(biāo)轉(zhuǎn)換為物理坐標(biāo),分別對(duì)單片機(jī)芯片兩條長(zhǎng)寬進(jìn)行尺寸測(cè)算求平均值。 本實(shí)驗(yàn)測(cè)量了四個(gè)不同型號(hào)單片機(jī)芯片的長(zhǎng)度與寬度,并分別對(duì)四組長(zhǎng)寬測(cè)量結(jié)果做誤差計(jì)算[9] [10]。 利用尺寸計(jì)算的雙邊求平均值的做法降低誤差,但通過對(duì)單片機(jī)芯片實(shí)際測(cè)量值與系統(tǒng)測(cè)量值的對(duì)比發(fā) 現(xiàn)仍然存在細(xì)微的誤差。對(duì)于單片機(jī)長(zhǎng)度及寬度的終值計(jì)算僅依賴簡(jiǎn)單的雙邊求平均方法,僅能有限的 降低誤差無法做到徹底消除誤差。
結(jié)論
尺寸檢測(cè)在工業(yè)中應(yīng)用極其廣泛,而電子元器件是工業(yè)待檢測(cè)物體中占比重很大的門類。應(yīng)用機(jī)器 視覺技術(shù)的尺寸檢測(cè)系統(tǒng)取代了以往的人工測(cè)量,節(jié)省了大量的人力與物力,為工業(yè)檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展增 添了動(dòng)力?;谝曈X檢測(cè)的電子元器件尺寸測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量對(duì)象是單片機(jī)芯片,系統(tǒng)主要包括相機(jī)標(biāo)定、 圖像采集、圖像預(yù)處理與邊緣提取和芯片長(zhǎng)寬尺寸測(cè)量等步驟,其重點(diǎn)在于圖像處理與尺寸測(cè)量?jī)蓚€(gè)部 分。選型之后重點(diǎn)工作在對(duì)圖像處理方法的對(duì)比研究,包括圖像濾波、圖像二值化以及邊緣提取等步驟。 其中圖像濾波進(jìn)行了對(duì)高斯濾波、均值濾波及中值濾波的對(duì)比分析,圖像二值化進(jìn)行了對(duì)直方圖閾值法、 最大類間方差法及平均值法的對(duì)比分析并最終結(jié)合三種方法使用了人工經(jīng)驗(yàn)選擇法確定了圖像分割的閾 值。采用連通域處理的方法對(duì)圖像進(jìn)行孔洞填充、邊界平滑以及面積過濾最終確定了單片機(jī)芯片的最小 外接矩形。最后完成對(duì)單片機(jī)芯片的尺寸測(cè)量并進(jìn)行了誤差計(jì)算與分析。
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